前田 拓也君が(大学院生)がIEEE EDS Japan Joint Chapter Student Awardを受賞

電子工学専攻の大学院生 前田 拓也君が2019年12月にThe 65th International Electron Devices Meeting (IEDM2019)で行った研究発表「Impact Ionization Coefficients in GaN Measured by Above- and Sub-Eg Illuminations for p-/n+ Junction」 に対して、IEEE EDS Japan Joint Chapter Student Awardを受賞しました。詳細はこちら

ドキュメントアクション